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iPhone6 Plus存缺陷恐将召回
casiosushi
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发表于 2014-11-4 16:35
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posted by wap, platform: iPhone
网易科技讯 11月4日消息,据韩国媒体报道,苹果最新的iPhone6和iPhone6 Plus智能手机被发现有功能缺陷,11月2日一些海外IT新闻网站报道,有些iPhone6和iPhone6 Plus的数据存储有问题。
Business Insider在10月24日报道,一些128GB版iPhone6 Plus用户有功能缺陷,当用户在不同应用之间切换或者查看通知时,据说手机会莫名其妙地死机或进入重启怪圈。Apple Insider在10月23日也报道,一些iPhone6 Plus机主已经更换4部手机,苹果最新的iOS 8.1升级没有修复这些缺陷。
业内人士指出,考虑到技术缺陷主要存在于128GB版iPhone6 Plus,问题有可能出现在三阶储存单元 (TLC)NAND闪存的控制器集成电路。TLC闪存属于固态NAND闪存,每个闪媒单元可存储3位数据,相比存储1位数据的单阶存储单元 (SLC)能多存储2倍的数据,也高于存储2位数据的多阶存储单元 (MLC)固态闪存。
此外,TLC闪存更廉价,但在读取和写入数据方面,TLC比SLC和MLC慢。据报道,为了节约成本苹果在128GB版iPhone6 Plus和其他一些型号上使用了TLC闪存。以前,TLC闪存被用于部分iPad平板电脑,而多数iPhone系列使用更昂贵但更稳定的MLC闪存。
网上很多报道显示,读取性能差的三星SSD840和840EVO使用了TLC闪存,因此控制器集成电路的问题被认为是导致缺陷的最可能原因。随着对SSD840和840EVO争议的上升,三星不得不升级了固件。业内人士认为,如果TLC闪存是苹果手机缺陷的原因,苹果应该召回所有产品。
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