天外飞仙
原帖由 FURA 于 2016-4-19 17:00 发表 posted by wap, platform: iPhone 好多啊,比如说电阻内部的刻蚀形状也会影响电阻在面对大浪涌电流的可靠性,L型刻蚀的比I型的效果要好。 就这些经验,很多电阻生产厂商自己都不一定清楚,这都需要长时间的大数据 ...
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原帖由 FURA 于 2016-4-19 17:41 发表 posted by wap, platform: iPhone 我们请的专业的可靠性咨询服务公司,这只是一个例子,又不单纯的说手机领域。我说的这个是放在对外接口的线路上限流用的。 本帖最后由 FURA 于 2016-4-19 17:43 通过手机版编辑
原帖由 小菜包子 于 2016-4-19 18:34 发表 posted by wap, platform: iPhone 浪涌有问题?usb热插拔有没有浪涌?电池充放电有没有浪涌?
原帖由 小菜包子 于 2016-4-19 20:58 发表 posted by wap, platform: iPhone 逗,usb口短路把南桥烧了的例子太多了吧。 lz自己要是懂,就不请专业可靠性公司评估了。手机里面需要防护浪涌的地方不要太多,用得着洗么?
原帖由 FURA 于 2016-4-20 07:11 发表 posted by wap, platform: iPhone 喷了,一群键盘工程师乱喷。 含钯量这个例子是取自真实案例,电阻钯含量低了容易锍化,华为早年因为这个问题给客户赔过13亿。 浪涌电流到处都有,串口、网口、USB接口都会有的 ...